測試探針內(nèi)部阻值的研究
文章來源：admin 時間：2017-03-17 06-23-45
探針保持低而穩(wěn)定的電阻值對彈簧探針的設(shè)計至關(guān)重要。彈簧探針所有零件的設(shè)計都對阻值有很大的影響。零件的外形、基材、電鍍、表面粗糙度、彈簧彈力等等都會影響接觸電阻。金屬材料的阻值容易計算。然而，計算出金屬與金屬之間，精確的接觸電阻會比較困難。通常在彈簧探針中，會有三個以上的接觸點。（芯片觸點和上測試針頭之測試針頭和套管之間，以及下測試針頭和電路板觸點之間,
我們可以測量彈簧探針的阻值，也可以只測量上測試針端和下測試針端之間的整體阻值。整體的阻值會涵蓋所有的內(nèi)部接觸電阻。
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